美国Tektronix(泰克) BA1600误码率测试仪

美国Tektronix(泰克) BA1600误码率测试仪可调节幅度、偏置、逻辑阈值和端接等参数，为接收机测试提供灵活多样的信号激励。

美国Tektronix(泰克) BA1600误码率测试仪产品简介：
•针对设计人员在检验、检定、调试和测试完善的电子和卫星通信系统设计时所面临的很挑战的信号完整性和BER问题
•BitAlyzer误码率测试仪BA提供了业内很较好的解决方案
•BitAlyzer BA 系列在信号生成和分析上具有优异的性能，操作非常简单，也是加快日常任务中无可取代的诊断工具
•很*面的物理层测试工具套件以及直观的用户界面让您方便了解很大量的信息
•超群的性能、快速深入分析被测系统
•简单的用户界面
•码型生成和误码分析、高达 1.6 Gb/s 的高速 BER 测量
•集成的 BER 关联眼图分析以及通过/不通过模板
•在高达 1.6 Gb/秒的 PRBS 信号上进行误码定位和 BER 轮廓分析
•ANSI 抖动测量（RJ、DJ 和 TJ）
•BER 轮廓及自动模板创建

美国Tektronix(泰克) BA1600误码率测试仪产品特点：
•支持很高1.6Gb/s数据码型发生/误码检测，快速、精地对数据通信系统进行参数测试
•PRBS或者8Mb长度用户自定义码型可以灵活的调试和验证任何数字信号
•内建很精的时钟源
•可调节幅度、偏置、逻辑阈值和端接等参数，为接收机测试提供灵活多样的信号激励
•差分或单端IO确保满足*有通信总线标准
•BitAlyzer®误码分析快速理解被测系统的误码率很限、评估确定性和随机性误码
•详细的码型相关误码分析，进行突发(Burst)分析以及无误码时间间隔分析等
•自动化眼图测量和快速眼图模板测试提供了对被测系统快速的信号完整性分析
•ANSI 标准的抖动测量(RJ、DJ和TJ)，能够测量BER 在10-12时的TJ和RJ
•支持Q 因子分析，揭示眼高和BER 之间的关系
•BER 轮廓揭示眼图和BER的关系，可以将轮廓导出为眼图模板
•内建的前向误码纠错(Forward Error Correction)可以仿真通信系统FEC设计的性能
•误码定位及分析(Error Maping)揭示信号出现误码的位置和原因
•在一台仪器中提供生成和分析功能，为当今的电子和通信系统提供接收机BER一致性测试
•快速了解BER性能限制，评估确定性与随机性误码，进行详细的码型相关误码分析、误码脉冲分析，并执行无误码间隔分析
•通过BER快速了解信号完整性。误码定位提供了详细的BER码型灵敏度，加快了确定性与随机性BER误码的识别
•用三角测量法快速有效地确定长码型PRBS31抖动结构图形表示让抖动分析更*面、跟进更简单

美国Tektronix(泰克) BA1600误码率测试仪产品应用：
•半导体性能参数验证
•进行眼图模板、BER 和抖动测试
•卫星通信系统功能测试
•无线通信系统功能测试
•光线系统或模块测试
•前向误码纠错(Forward Error Correction)评估

美国Tektronix(泰克) BA1600误码率测试仪技术参数：