美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计 - 北京华仪通泰环保科技有限公司

品牌介绍

美国 International Light 公司的多功能，轻便的辐射度计、照度计，可检测紫外光，可见光到红外光的各波段，光参量的测量，对任意光学单位都可直接读数。产品包括：可见光光度测量，光辐射防护和利用测量系统， UV紫外应用监测和测量仪器，分光光度计等。

王经理 13261731718

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产品详情

美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计产品简介：

美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长高能量曝光测量

ILT2400辐照计以手持价格提供研究级质量，采用可分离探头设计，具有8个量级的动态测量范围，测量速度可达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向查看读数或图形曲线。XSD340B探头响应波段326-401 nm，校准于365nm波长，可测量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源辐照强度。ILT测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测，校准于365nm光阻剂作用光谱，*确地知道光致抗蚀剂曝光的程度，可测量高达30W/cm2 高能量强度，用于PCB印刷电路板光及半导体业。

美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计探头参数：

ILT XSD系列光刻胶辐照度探头

ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长

ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长

ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光谱范围326-401 nm，*心波长365nm

ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高强度，测量光谱326-401 nm，校准于365nm

美国International Light Photoresist光阻剂曝光辐照度测光表探头选型

辐照计/探头组合	响应波长频谱	测量范围	类型及应用
ILT5000, SED033/A/W	320-475 nm	2e-9 ~ 2 W/cm²	台式，Photoresist光刻胶/光阻材料， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, SED033/A/W	320-475 nm	2e-7 ~ 2 W/cm²	手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，同上
ILT1000/A/W	320-475 nm	2e-7 ~ 2 W/cm²	手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源
ILT1700, SED033/A/W	320-475 nm	7e-9 ~ 4 W/cm²	台式，Photoresist光刻/光阻剂，同上
ILT2400, XSD140A	320-475 nm	4e-8 ~ 0.7 W/cm²	手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, XSD340A	320-475 nm	8e-7 ~ 10 W/cm²	同上，大功率高强度辐照探头
ILT5000, SED033/B/W	326-401 nm	3e-10 ~ 0.2 W/cm²	台式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, SED033/B/W	326-401 nm	2e-8 ~ 0.2 W/cm²	手持式，同上
ILT1700, SED033/B/W	326-401 nm	5e-9 ~ 0.5 W/cm²	台式，同上
ILT1000/B/W	326-401 nm	2e-7 ~ 2 W/cm²	手持式，同上
ILT2400, XSD140B	326-401 nm	7e-8 ~ 1 W/cm²	手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源
ILT2400, XSD340B	326-401 nm	2e-6 ~ 30 W/cm²	手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，高强度测量
ILT2400, SSD001	260-400 nm	6e-6 ~ 0.9 W/cm²	手持式，超薄传感器， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源

另有UV固化测量系统ILT800传送带式紫外线固化设备曝光量测量，范围5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校准于405nm*心波长，可测辐照强度范围高达60 W/cm²。ILT紫外杀菌测光系统ILT2400+SED254/QT，手持式，低可见度环境，高功率紫外线强度应用；ILT2400+SED185/NS185校准于185nm，臭氧/杀菌、光解废气、水处理行业。