美国CID CI-710叶片光谱探测仪CI-710功能强大,可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱。
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美国CID CI-710叶片光谱探测仪CI-710功能强大,可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱。
美国CID CI-710叶片光谱探测仪产品简介:
•CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大,可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱
•通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化
•直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段
美国CID CI-710叶片光谱探测仪产品特点:
•非常便携,适合于室内或野外使用
•非破坏性*密地测量叶片在400~950nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率
•扫描速度快,灵敏度高
•USB接口连接UMPC数据处理终端
•样品类型,叶片或扁平的物体
美国CID CI-710叶片光谱探测仪标准配置:
•光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱
美国CID CI-710叶片光谱探测仪技术参数:
测量方式: | 非破坏性测量叶片 |
测量光谱: | 叶片透射、吸收和反射光谱 |
样品类型: | 叶片或扁平的物体 |
检测器: | CCD线性阵列探测器 |
扫描波长范围: | 400~950 nm |
采样速度: | 3.8ms-10s |
光偏离: | <0.05%在600nm;0.10%在435nm |
分辨率: | 0.3~10.0nm FWHM |
采样直径: | 7.6 mm |
线性修正: | >99.8% |
配有CI-700LP叶夹 | |
尺寸: | 89.1 x 63.3 x 34.4 cm |
重量: | 290g |